요약: IC소켓 검사용 다중채널 측정 시스템 및 그 다중채널 측정방법이 개시된다. 본 발명에 따른 IC소켓 검사용 다중 채널 측정 시스템은, 복수의 SMU(Source Measure Unit) 보드를 탑재하며, 탑재되는 복수의 SMU 보드를 직렬 또 는 병렬로 연결하여 채널을 확장하는 채널확장 보드; 탑재되는 각각의 SMU 보드에 개별적으로 전원을 공급 제어 하는 전원공급 제어장치; 및 전원공급 제어장치에 의해 개별적으로 공급 제어되는 전원에 의해 각각의 상기 SMU 보드를 통해 측정되는 IC(Integrated Circuit) 소켓의 전압 및 전류를 분석하는 IC소켓 분석장치;를 포함하는 것 을 특징으로 한다.